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深圳維度科技即將參加日本FOE展

摘要:2017日本FOE光通信展覽會即將于4月5日-7日在日本東京有明國際展示中心舉行,屆時維度科技將攜光纖端面干涉儀、光纖端面檢測儀、同心度調芯儀等設備與大家見面,共同探討光纖連接器端面檢測解決方案。展位號:30-41

    ICCSZ訊 2017日本FOE光通信展覽會即將于4月5日-7日在日本東京有明國際展示中心舉行,屆時維度科技將攜光纖端面干涉儀、光纖端面檢測儀、同心度調芯儀等設備與大家見面,共同探討光纖連接器端面檢測解決方案。展位號:30-41

    維度科技于2007年在中國深圳成立,是全球領先的光通信視覺檢測設備的制造商。2008年推出自主開發(fā)的、擁有專利技術的、國內首款非接觸式光纖端面干涉儀。2010年首發(fā)BINNA全自動非接觸式光纖端面干涉儀。2012年獲得深圳市2012年第一批“國家級高新技術企業(yè)”稱號。同年推出國內首款 BINNA Mt單多芯一體光纖端面干涉儀。2015年維度科技與《北京大學深圳研究生院》合作科研《河流流量監(jiān)測系統(tǒng)關鍵技術研發(fā)與應用》項目(注:深圳市科技創(chuàng)新委節(jié)能環(huán)保產業(yè)發(fā)展專項)。同時推出世界領先的陶瓷插芯同心度測試儀,具有多項專利技術。同年10月推出國內首臺全自動光纖端面清潔檢測系統(tǒng)。

內容來自:訊石光通訊咨詢網
本文地址:http://n2software.net//Site/CN/News/2017/03/29/20170329063400863600.htm 轉載請保留文章出處
關鍵字: 維度
文章標題:深圳維度科技即將參加日本FOE展
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